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Elektrophysik Mintest 3100表面涂層測厚儀*
Ⅰ.產(chǎn)品描述
德國Elektrophysik Mintest 3100測厚儀配備有堅(jiān)固耐磨的傳感器，確保使用壽命；各種型號(hào)的特殊探頭，滿足不同的的探測需求；廣泛的應(yīng)用程序，測量精度高、重復(fù)性好。測量值的存儲(chǔ)與評估，擁有10,000個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲(chǔ)讀數(shù)的可能性，外端接口還可連接打印機(jī)和電腦，用一個(gè)或兩個(gè)箔校準(zhǔn)。
作為無損檢測厚度行業(yè)的*，德國EPK公司多年來一直致力于防腐層檢測，特別是涂層測厚儀的產(chǎn)品更是遠(yuǎn)銷*。
Ⅱ.產(chǎn)品特點(diǎn)
- 適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭，具有幾乎無限壽命，所有的探頭都配備了耐磨桿，確保使用壽命長，也適用于磨料基板
- 具有自動(dòng)基板檢測的通用探頭允許鋼和有色金屬的快速測量
- 廣泛的應(yīng)用程序，測量精度高，重復(fù)性好
- 測量值的存儲(chǔ)與評估，擁有10,000個(gè)讀數(shù)的總內(nèi)存容量和存儲(chǔ)讀數(shù)的可能性。
- 特殊的粗糙表面和校準(zhǔn)標(biāo)定函數(shù)未知涂層(CTC方法)
- 測量系列的統(tǒng)計(jì)評估允許用戶評估涂層的平均值，zui大值，zui小值，標(biāo)準(zhǔn)偏差和在一個(gè)測量系列
- RS 232接口用于便攜式數(shù)據(jù)打印機(jī)MiniPrint 4100或PC
- 所有探頭都可以連接，包括F型、N型FN兩用型
- 用一個(gè)或兩個(gè)箔校準(zhǔn)
Ⅲ.我們可以根據(jù)要求提供特殊的探頭型號(hào)：
在潮濕地區(qū)使用的*密封探頭；
溫度高達(dá)250°C和350°C適用的耐熱探頭；
Ⅳ.非破壞性測量覆蓋以下測量范圍：
0 - 50mm鋼無磁性涂料
0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
10-200µM絕緣基材銅層
0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料
Ⅴ.MINITEST3100 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量
應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))10
每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算，并可設(shè)寬容度極限值)10
可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)500
可存儲(chǔ)數(shù)據(jù)總量10000
Ⅵ.MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值：平均值x,標(biāo)準(zhǔn)偏差s,讀值數(shù)n,zui大值max,zui小值min,樣本變異系數(shù)kvar
讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk
組統(tǒng)計(jì)值六種：所有均值的均值x、均值標(biāo)準(zhǔn)偏差s、組塊數(shù)n、zui大均值max、zui小均值min、均值變異系數(shù)kvar
存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)
分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值
顯示并打印測量值、打印的日期和時(shí)間
Ⅶ.其他功能
透過涂層進(jìn)行校準(zhǔn)(CTC)
在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn)
利用計(jì)算機(jī)進(jìn)行基礎(chǔ)校準(zhǔn)
補(bǔ)償一個(gè)常數(shù)(Offset)
外設(shè)的讀值傳輸存儲(chǔ)功能
保護(hù)并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置
更換電池時(shí)存儲(chǔ)數(shù)值
可以設(shè)置極限值
連續(xù)測量模式快速測量，通過模擬柱識(shí)別zui大zui小值
連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)
連續(xù)測量模式中顯示zui小值
Ⅷ.(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇zui適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度，基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭：測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭：測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭：同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 | 誤差 | zui小曲率 | zui小測量 | zui小基 | 探頭尺寸 | |
磁
| F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%±0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm | |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm | |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%±10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm | |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm | |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%±50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm | |
兩
| FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 30mm | F0.5mm | φ21x89mm | |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm | φ15x62mm | |
電
| N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%±0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm | |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm | |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%±1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm | |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%±25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm | |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%±50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm | |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm | |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%±1μm) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80mm | |
| 注： | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭，用于管內(nèi)測量。 Elektrophysik Mintest 3100表面涂層測厚儀* |
Ⅸ.探頭選擇：
| FN1.6 | |
| FN1.6P | |
| F05 | |
| F1.6 | |
| F3 | |
| F1.6/90 | |
| F10 | |
| F20 | |
| F50 | |
| N02 | |
| N0.8Cr | |
| N1.6 | |
| N1.6/90 | |
| N10 | |
| N20 | |
|
| |
| CN02 |
篤摯儀器（上海）有限公司的產(chǎn)品和系統(tǒng)方案廣泛應(yīng)用于大中型國有企業(yè)、汽車制造業(yè)、精密機(jī)械、模具加工、電子電力、鑄造冶金、航空航天、工程建筑、大專院校等研究實(shí)驗(yàn)室和生產(chǎn)線、質(zhì)量控制和教育事業(yè)，用于評價(jià)材料、部件及結(jié)構(gòu)的幾何特征和理化性能，推動(dòng)著精良制造技術(shù)的精益求精。
DOOZ INSTRUMENT (SHANGHAI) CO., LTD.is an instruments and equipment supplier and service provider specialized in mechanical measurement machine, materials chemical composition, physical performance testing and analysis.
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