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ElektroPhysik MiniTest 420超聲波測(cè)厚儀*
MiniTest 420超聲波測(cè)厚儀是德國(guó)EPK公司推出的型超聲波測(cè)厚儀。
該系列產(chǎn)品具有使用簡(jiǎn)便，速度快，可靠性高等特點(diǎn)，是一款便攜式手持式精密儀表，適用于鋼，不銹鋼，鋁，玻璃，塑料等壁厚測(cè)量等，可互換傳感器、自動(dòng)探頭識(shí)別、具有自動(dòng)調(diào)零和高速掃描的型號(hào)。
項(xiàng)目 | 參數(shù) | 420 | 430 | 440 | |
零位校準(zhǔn) | 開(kāi)機(jī)自動(dòng)零位校準(zhǔn) |
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測(cè)量參數(shù) | 發(fā)射－回波模式，量程0.65-500mm | 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量：滿足常用的檢測(cè)要求 | ● | ● | ● |
zui小值測(cè)量：滿足曲面或需要選擇zui小值的測(cè)量環(huán)境 | ● | ● | ● | ||
差分測(cè)量：顯示實(shí)際測(cè)量值與設(shè)定標(biāo)準(zhǔn)值的差值 |
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平均測(cè)量：提供2-9點(diǎn)的測(cè)量平均值 |
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上下限測(cè)量：極限報(bào)警 |
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回波－回波模式，量程3-25mm | 透過(guò)涂層測(cè)量基體厚度 |
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快速掃查模式 | 適用于高溫或需要提高測(cè)量速度的測(cè)量環(huán)境，每秒10次的測(cè)量，可以同時(shí)顯示測(cè)量中的zui大值和zui小值 |
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數(shù)據(jù)存儲(chǔ) | 10組5000個(gè)數(shù)據(jù)，動(dòng)態(tài)分配 |
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數(shù)據(jù)輸出 | USB接口，通過(guò)USB接口上傳儀器中存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī) |
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顯示信息 | 測(cè)量值，聲速值，探頭型號(hào)，電池電量，當(dāng)前數(shù)據(jù)組 | ||||
示值精度 | 小于99.99mm時(shí)為0.01mm;大于100mm時(shí)為0.1mm | ||||
單位 | 公制/英制 | ||||
聲速范圍 | 1000m/s - 9999m/s | ||||
增益 | 自動(dòng)；手動(dòng)可調(diào) | ||||
聲速測(cè)量 | 確定未知聲速材料的聲速，預(yù)置9種常用材料聲速值 | ||||
探頭識(shí)別 | 自動(dòng)識(shí)別探頭 | ||||
關(guān)機(jī)選擇 | 可選擇2分鐘，5分鐘自動(dòng)關(guān)機(jī)或選擇不自動(dòng)關(guān)機(jī) | ||||
外形尺寸 | 130× 73 × 24 mm(L×W×H) | ||||
重量 | 約190g | ||||
工作溫度 | -20至50攝氏度 | ||||
電池 | 兩節(jié)5號(hào)電池，電量顯示，電量不足報(bào)警 | ||||
工作時(shí)間 | 不間斷測(cè)量不少于80小時(shí) | ||||
顯示屏 | 128×64 背光 | ||||
型號(hào) | 晶體直徑 | 頻率 | 測(cè)量范圍 | 工作溫度 | 簡(jiǎn)介 |
U5.0E | 8MM | 5.0MHZ | 3-25MM(E-E) 0.8-300MM(T-E) | -12～+60℃ | 440標(biāo)配探頭，440*探頭，具有透過(guò)涂層測(cè)量模式。zui小測(cè)量管外徑20mm 適合440,430不可選。 |
U10.0 | 4MM | 10.0MHZ | 0.65-20MM | -12～+60℃ | 小管徑探頭。zui小測(cè)量管外徑10mm |
U7.5 | 6MM | 7.5MHZ | 0.65-50MM | -12～+60℃ | 主要用于薄壁及小弧面的測(cè)量. zui小測(cè)量管外徑15mm |
U5.0 | 8MM | 5.0MHZ | 0.8-350MM | -12～+60℃ | 420/430標(biāo)配探頭，主要用于測(cè)量表面為平面或者較大弧度的材料。zui小測(cè)量管外徑20mm |
U2.0 | 12MM | 2.0MHZ | 2.0-500MM | -12～+60℃ | 粗晶探頭，主要用于鑄鐵等粗晶材質(zhì)的測(cè)量。zui小測(cè)量管外徑30mm |
U5.0HT | 13MM | 5.0MHZ | 3.0-200MM | -12～+350℃ | 高溫探頭，主要用于測(cè)量溫度小于350℃的材料的測(cè)量， 注：測(cè)量時(shí)晶體與被測(cè)高溫物體的接觸時(shí)間不得大于5S。zui小測(cè)量管外徑25mm
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