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庫侖電位差測厚儀cms2 step 該庫侖測厚儀多用于在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測試。CMS2 STEP 的特征是 STEP 測試功能（同時測定厚度和電位差）。 在多層鎳的質(zhì)量監(jiān)控中用于對鍍層厚度和電位差的標(biāo)準(zhǔn)化 STEP 測試 （根據(jù) ASTM B764-94和 DIN 50022）。

MP0/MP0R高精度便攜無損鍍層測厚儀 小巧、便攜、耐用：FISCHER公司推出的MP0和MP0R系列無損測厚儀可以快速、精確地測量涂鍍層的厚度，滿足客戶對于FISCHER一貫的精度等級的期待。

fischer fmp40 涂層測厚儀 新一代手提式儀器和可更換的探頭可以提供無損且高精度的涂鍍層厚度測量。無論是生產(chǎn)過程中的質(zhì)量控!制，還是在來料檢驗中的隨機(jī)抽檢和全檢，我們都會提供友好的用戶體驗和多樣的選擇來滿足您的需求。

PHASCOPE PMP10 手持式PHASCOPE®PMP10非常適合電鍍和印刷電路板（PCB）行業(yè)的質(zhì)量控制。 由于該儀器采用了相敏渦流方法（ISO 21 968），因此可以測量任何基材上的金屬涂層。

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cms2庫侖測厚儀德國Fischer公司代理 庫侖鍍層測厚儀，應(yīng)用庫侖電量分析原理，其過程類似于電鍍，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍。德國FISCHER菲希爾COULOSCOPE CMS2庫倫法測厚儀-----根據(jù)庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差。庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方

DUALSCOPE MP0手持涂層厚度測量儀 DUALSCOPE MP0：用于測量黑色金屬或有色金屬材料上的涂層。 DUALSCOPE MP0R：附加的無線電和USB接口，用于數(shù)據(jù)傳輸?shù)絇C DUALSCOPE MP0R-FP：使用固定電纜探頭，無線電和USB接口

fischerscope mms pc2臺式涂層測厚儀 FISCHERSCOPE® MMS® PC2高級臺式涂層測厚儀用于通用的涂層厚度測量和材料測試，具有彩色觸摸屏、可進(jìn)行個性化配置并帶有各種設(shè)備接口.嵌入式模塊 BETASCOPE®